Промышленная линия тестирования печатных плат, SMD компонентов, микросхем и микропроцессоров. Возможность логического тестирования, измерения параметров FET.
| Основные характеристики | Промышленная линия тестирования печатных плат, SMD компонентов, микросхем и микропроцессоров. Возможность логического тестирования, измерения параметров FET |
|---|
Заполните форму — ответим с актуальной ценой и сроком поставки в течение рабочего дня
