Арт.: FA1282

Тестер двухсторонних печатных плат с летающим пробником внутрисхемный HIOKI FA1282

Внутрисхемный тестер двухсторонних печатных плат с летающим пробником Flying Probe для контроля плат в массовом производстве, гарантирующего качество продукции. 100 точек/сек, 2 манипулятора, 2 пробника сверху, 2 снизу. Измерение всех параметров компонентов.

Цена по запросу  — уточняйте актуальную стоимость
Основные характеристики Внутрисхемный тестер двухсторонних печатных плат с летающим пробником Flying Probe для контроля плат в массовом производстве, гарантирующего качество продукции. 100 точек/сек, 2 манипулятора, 2 пробника сверху, 2 снизу. Измерение всех параметров компонентов

Технические характеристики

Основные характеристики Внутрисхемный тестер двухсторонних печатных плат с летающим пробником Flying Probe для контроля плат в массовом производстве, гарантирующего качество продукции. 100 точек/сек, 2 манипулятора, 2 пробника сверху, 2 снизу. Измерение всех параметров компонентов

Запросить цену на Тестер двухсторонних печатных плат с летающим проб

Заполните форму — ответим с актуальной ценой и сроком поставки в течение рабочего дня

Похожие позиции

Промышленная линия тестирования печатных плат и SMD компонентов HIOKI 1220
Арт: 1220
Промышленная линия тестирования печатных плат и SMD компонентов HIOKI 1220
Промышленная линия тестирования печатных плат, SMD компонентов, микросхем и микропроцессоров. Возмож…
Цена по запросу — уточняйте
Комплекс промышленного тестирования печатных плат автоматический HIOKI 1230
Арт: 1230
Комплекс промышленного тестирования печатных плат автоматический HIOKI 1230
Автоматический комплекс промышленного тестирования печатных плат, измерение параметров SMD компонент…
Цена по запросу — уточняйте
Тестер несмонтированных печатных плат автоматический HIOKI 1231
Арт: 1231
Тестер несмонтированных печатных плат автоматический HIOKI 1231
Автоматический тестер несмонтированных печатных плат, минимальный диаметр контактной площадки 10 мкм…
Цена по запросу — уточняйте
X-Y тестер дефектов контактов микросхем и их работоспособности HIOKI 1240
Арт: 1240
X-Y тестер дефектов контактов микросхем и их работоспособности HIOKI 1240
X-Y тестер дефектов контактов микросхем и их работоспособности с возможностью измерения номиналов SM…
Цена по запросу — уточняйте